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xray檢測
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三維高分辨率X射線透視成像檢測設(shè)備
發(fā)布時間:2022-03-07 09:00:00

工業(yè)CT是近來熱度很高的設(shè)備,它彌補(bǔ)了以前2D設(shè)備的檢測缺陷。3D CT()即工業(yè)錐束CT機(jī))具有廣闊的應(yīng)用空間,在航空航天領(lǐng)域,能夠準(zhǔn)確獲得零部件內(nèi)部的三維結(jié)構(gòu);在精密電子領(lǐng)域,可對電路板進(jìn)行無損成像檢測;在考古領(lǐng)域可對文物進(jìn)行無損透視,實(shí)現(xiàn)對文物各組成部分位置判定、尺寸測量、密度測量、逆向仿制。 

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3DCT 的應(yīng)用廣泛: 

在電子制造領(lǐng)域:X射線無損三維檢測技術(shù)可以滿足電子模塊缺陷檢測和電子行業(yè)產(chǎn)品質(zhì)量控制的需要,解決三維斷層掃描成像的關(guān)鍵科學(xué)問題,實(shí)現(xiàn)電子模塊封裝、印刷電路板、高密度封裝等高精度自動無損檢測,此應(yīng)用將廣泛應(yīng)用于航天、航空、海/陸裝、戰(zhàn)略武器等各種設(shè)備電子系統(tǒng)的產(chǎn)品鑒定與評價、破化性物理分析(DPA)、產(chǎn)品工藝質(zhì)量鑒定等。在武器設(shè)備的開發(fā)和生產(chǎn)過程中,識別PCB孔隙、焊點(diǎn)枕頭效應(yīng)、裂紋、BGA設(shè)備焊球缺陷和結(jié)構(gòu)損傷、包裝芯片故障分析等缺陷,提高電子產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性,提高產(chǎn)品研發(fā)設(shè)計和制造技術(shù)水平,提高高端電子產(chǎn)品缺陷識別和分析能力。 

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測試項目:

(1)PCB測試與評價:三維形狀表征、尺寸測量等。

(2)PCB:潤濕不良、分層、開路、短路等。

(3)PCBA:潤濕不良、焊點(diǎn)開裂、脫落、設(shè)備故障、腐蝕等。

(4)檢測BGA器件焊球缺陷和結(jié)構(gòu)損傷的三維形狀。

(5)封裝芯片故障分析。 

在新能源電池領(lǐng)域:3DX-ray三維斷層成像系統(tǒng)可以在不破壞電池的情況下,準(zhǔn)確識別各種類型電池(如圓柱電池、軟包裝電池、方形電池等)的內(nèi)部三維結(jié)構(gòu),快速智能檢測內(nèi)部缺陷。 

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測試項目:

(1)極片缺陷檢測,如極片斷裂、翹曲、褶皺等。

(2)整體焊接和密封。

(3)觀察極片卷繞、疊片平行度、測量正負(fù)極片高差等。

(4)電池充放電循環(huán),各種環(huán)境試驗(yàn)前后電池內(nèi)部結(jié)構(gòu)變化,產(chǎn)氣的情況下。

(5)各種沖擊試驗(yàn)對電池結(jié)構(gòu)的影響。

在材料領(lǐng)域,借助x射線三維成像技術(shù),可以對纖維復(fù)合材料、功能復(fù)合材料、合金/陶瓷復(fù)合材料、泡沫材料、大型結(jié)構(gòu)件等進(jìn)行統(tǒng)計分析,實(shí)現(xiàn)三維結(jié)構(gòu)表征和纖維取向、樣品壁厚、滲流等參數(shù),促進(jìn)新材料技術(shù)的研發(fā)和材料性能的提高。 

測試項目:

2D/3D/4D結(jié)構(gòu)表征的2D/3D/4D結(jié)構(gòu)表征及形態(tài)學(xué)分析。

(2)二維/三維測量。

(3)統(tǒng)計分析內(nèi)部缺陷/孔隙/裂紋的形態(tài)學(xué)表征。

(4)纖維樣品三維空間取向統(tǒng)計分析。

(5)材料內(nèi)部滲流模擬與分析計算。

(6)多孔材料壁厚分析。

(7)計算顆粒間夾雜物和表面包裹物的體積。

(8)特殊材料熱導(dǎo)率分析。



想了解更多日聯(lián)科技X-ray檢測裝備信息可以撥打全國服務(wù)熱線:400-880-1456 或訪問日聯(lián)科技官網(wǎng):www.yw2719.cn

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